如何测绘投影
测绘投影的方法可以分为以下几种：
比较测量法
制作标准放大图进行比较。根据零件的尺寸确定物镜的放大倍率，并制作与物镜放大倍率相同的标准放大图。使用具有较小弹性的透明塑料片，并给出允许的公差带。将零件图像与标准图形比较，如果误差在公差范围之内，则判定为合格。
直接测量法
将投影屏幕旋转至零位对齐，调整工件的测量方向与测量轴平行。移动工作台使测量长度的一端与屏幕上刻线的交点对齐，然后清零坐标值。再次移动工作台，使另一端与屏幕上的“线”相交点上的刻线对齐，此时显示的值为测量尺寸。
使用投影仪的测量功能
投影仪自带测量功能，在投影仪菜单中找到测量选项，按照提示进行操作即可。
计算投影距离和投影尺寸
测量投影距离，投影一个已知尺寸的物体（如正方形），测量投影物体的尺寸，然后通过投影距离和投影物体尺寸的比例计算出实际尺寸。
全站仪进行投影测量
将全站仪放置在一个稳定的点上，照准已知的高程点，测量水平角和竖直角，测得斜距、平距或高差，计算出目标点的三维坐标（X, Y, H），并进行放样测量和数据记录。
选择合适的投影面
投影面通常选择为与矿体主要勘探线方向正交的平面。在特殊情况下，如矿体形态复杂或地质构造特殊，也可选择其他合适的投影面。